CE-LVD認(rèn)證中,電磁兼容性(EMC)測(cè)試的重要性及常見測(cè)試項(xiàng)目有哪些?

 點(diǎn)擊:0     |      2024-12-31

     電磁兼容性(Electromagnetic Compatibility,簡(jiǎn)稱 EMC)測(cè)試是用于評(píng)估電氣和電子設(shè)備在其電磁環(huán)境中能夠正常工作,且不會(huì)對(duì)該環(huán)境中的其他設(shè)備產(chǎn)生不可接受的電磁干擾的一系列測(cè)試。

一、 電磁兼容性(EMC)測(cè)試的重要性

   - 設(shè)備正常運(yùn)行保障:在復(fù)雜的電磁環(huán)境中,電氣和電子設(shè)備可能會(huì)受到電磁干擾(EMI)的影響而出現(xiàn)故障。例如,在醫(yī)院環(huán)境中,如果醫(yī)療設(shè)備(如心臟起搏器、腦電圖儀等)受到其他設(shè)備發(fā)出的電磁干擾,可能會(huì)導(dǎo)致設(shè)備顯示錯(cuò)誤信息、工作異常甚至危及患者生命。通過EMC測(cè)試可以確保設(shè)備在預(yù)期的電磁環(huán)境中能夠正常運(yùn)行,不受外界干擾。

電磁兼容性(EMC)測(cè)試

   - 防止電磁干擾其他設(shè)備:電氣設(shè)備在工作過程中自身也會(huì)產(chǎn)生電磁輻射,如果輻射強(qiáng)度超過一定限度,就會(huì)對(duì)周圍其他設(shè)備造成干擾。例如,工業(yè)環(huán)境中的大型電機(jī)在啟動(dòng)和運(yùn)行過程中會(huì)產(chǎn)生很強(qiáng)的電磁輻射,如果其電磁兼容性不好,可能會(huì)干擾附近的自動(dòng)化控制系統(tǒng),導(dǎo)致生產(chǎn)線故障。因此,EMC測(cè)試可以保證設(shè)備在正常工作時(shí)不會(huì)對(duì)周圍環(huán)境中的其他設(shè)備產(chǎn)生不可接受的電磁干擾。


   - 符合法規(guī)和標(biāo)準(zhǔn)要求:在歐盟等市場(chǎng),CE - LVD認(rèn)證中的EMC要求是產(chǎn)品合法進(jìn)入市場(chǎng)的必要條件。許多國(guó)家和地區(qū)都制定了嚴(yán)格的電磁兼容性法規(guī)和標(biāo)準(zhǔn),以保障公共安全和正常的電磁環(huán)境秩序。不符合EMC要求的產(chǎn)品將無法獲得認(rèn)證,不能在相應(yīng)市場(chǎng)銷售。


二、常見測(cè)試項(xiàng)目

1.電磁輻射發(fā)射(RE)測(cè)試

     - 目的:測(cè)量設(shè)備在正常工作狀態(tài)下向周圍空間發(fā)射的電磁輻射強(qiáng)度。這主要是為了評(píng)估設(shè)備是否會(huì)對(duì)周圍的其他電子設(shè)備造成干擾。


     - 測(cè)試頻段和方法:測(cè)試頻段通常覆蓋從低頻(如9kHz)到高頻(如40GHz)的范圍。對(duì)于不同類型的設(shè)備,測(cè)試方法有所不同。例如,對(duì)于信息技術(shù)設(shè)備(如計(jì)算機(jī)、服務(wù)器等),會(huì)在半電波暗室中進(jìn)行測(cè)試,設(shè)備按照正常工作模式運(yùn)行,通過天線接收并測(cè)量其輻射的電場(chǎng)強(qiáng)度和磁場(chǎng)強(qiáng)度。


2.電磁傳導(dǎo)發(fā)射(CE)測(cè)試

     - 目的:檢測(cè)設(shè)備工作時(shí)通過電源線、信號(hào)線等傳導(dǎo)途徑向外發(fā)射的干擾信號(hào)。這些干擾信號(hào)可能會(huì)沿著電線傳導(dǎo)到其他設(shè)備,影響它們的正常工作。


     - 測(cè)試頻段和方法:測(cè)試頻段一般從低頻(如150kHz)開始,高頻部分根據(jù)設(shè)備類型有所不同,最高可達(dá)30MHz。測(cè)試時(shí),將設(shè)備連接到人工電源網(wǎng)絡(luò)(LISN)上,通過測(cè)量LISN端口上的電壓來確定傳導(dǎo)發(fā)射的干擾信號(hào)強(qiáng)度。

電磁兼容性(EMC)測(cè)試

3.電磁抗擾度(EMS)測(cè)試

     - 目的:評(píng)估設(shè)備在受到外界電磁干擾時(shí)的耐受能力。確保設(shè)備在各種可能的電磁干擾環(huán)境下(如來自附近的無線電發(fā)射設(shè)備、雷擊等)仍能正常工作。


     - 常見測(cè)試項(xiàng)目和方法:

       - 靜電放電(ESD)抗擾度測(cè)試:模擬人體或物體靜電放電對(duì)設(shè)備的影響。測(cè)試時(shí)使用靜電放電發(fā)生器,在設(shè)備的不同部位(如外殼、操作按鈕等)進(jìn)行放電,放電電壓一般從幾千伏到幾萬伏不等,觀察設(shè)備在放電后的工作狀態(tài)是否正常,如是否出現(xiàn)死機(jī)、數(shù)據(jù)丟失、功能異常等情況。


       - 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度測(cè)試:模擬設(shè)備在受到外界射頻電磁場(chǎng)干擾(如來自廣播電臺(tái)、移動(dòng)電話基站等)時(shí)的情況。將設(shè)備放置在電波暗室中的測(cè)試臺(tái)上,通過天線發(fā)射規(guī)定場(chǎng)強(qiáng)(如3V/m、10V/m等)的射頻電磁場(chǎng),頻率范圍通常從80MHz到6GHz,觀察設(shè)備在干擾環(huán)境下是否能正常工作。


       - 電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試:模擬設(shè)備在受到電感性負(fù)載(如繼電器、接觸器等)切換時(shí)產(chǎn)生的快速瞬變脈沖群干擾的情況。通過脈沖群發(fā)生器向設(shè)備的電源線、信號(hào)線等注入規(guī)定幅值(如±2kV、±4kV等)和頻率(如5kHz、100kHz等)的脈沖群,檢查設(shè)備是否能正常運(yùn)行。